Химия - Сканирующий зондовый микроскоп

01 марта 2011


Оглавление:
1. Сканирующий зондовый микроскоп
2. Принцип работы
3. Особенности работы
4. Обработка полученной информации и восстановление полученных изображений
5. Производители СЗМ в России и СНГ в алфавитном порядке



Сканирующие зондовые микроскопы — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности с высоким разрешением. Сканирующий зондовый микроскоп в современном виде изобретен Гердом Карлом Биннигом и Генрихом Рорером в 1981 году. За это изобретение были удостоены Нобелевской премии по физике за 1986 год, которая была разделена между ними и изобретателем просвечивающего электронного микроскопа Э. Руска. Отличительной СЗМ особенностью является наличие:

  • зонда,
  • системы перемещения зонда относительно образца по 2-м или 3-м координатам,
  • регистрирующей системы.

Регистрирующая система фиксирует значение функции, зависящей от расстояния зонд-образец. Обычно регистрируемое значение обрабатывается системой отрицательной обратной связи, которая управляет положением образца или зонда по одной из координат. В качестве системы обратной связи чаще всего используется ПИД-регулятор.

Основные типы сканирующих зондовых микроскопов:

  • Сканирующий атомно-силовой микроскоп
  • Сканирующий туннельный микроскоп
  • Ближнепольный оптический микроскоп


Просмотров: 3022


<<< Силицирование