Химия - Масс-спектрометрия вторичных ионов - Динамический режим
01 марта 2011Оглавление:
1. Масс-спектрометрия вторичных ионов
2. Вакуум
3. Динамический режим
Поток первичных ионов большой, поверхность исследуется последовательно, со скоростью примерно 100 ангстрем в минуту.
Режим является деструктивным, и, следовательно, подходит больше для элементного анализа.
Эрозия пробы позволяет получить профиль распределения веществ по глубине.
Просмотров: 2853
|