Химия - Растровый электронный микроскоп

01 марта 2011


Оглавление:
1. Растровый электронный микроскоп
2. История
3. Принцип работы
4. Устройство
5. Режимы работы
6. Разрешение
7. Подготовка объектов
8. Применение
9. Основные мировые производители сканирующих электронных микроскопов



Растровый электронный микроскоп Zeiss Leo Supra 35
Микрофотография пыльцы позволяет оценить возможности режима ВЭ РЭМ
Микрофотография интерфейса между оксидной и металлической составляющими позволяет оценить возможности режима ОЭ РЭМ

Растровый электронный микроскоп — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым веществом.

Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 10 крат до 1 000 000 крат, что приблизительно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов.

Сегодня возможности растровой электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, от биологии до наук о материалах. Существует огромное число выпускаемых десятками фирм разнообразных конструкций и типов РЭМ, оснащенных детекторами различных типов.



Просмотров: 7687


<<< Расплавы
Рекристаллизация >>>