Химия - Темнопольная оптическая микроскопия

28 февраля 2011


Оглавление:
1. Темнопольная оптическая микроскопия
2. Преимущества и недостатки
3. Применение



Схема темнопольной микроскопии в падающем свете.
Подсветка образца осуществляется сбоку. Изображение создается светом, рассеивающимся на неоднородностях образца.

вид оптической микроскопии, в которой контраст изображения увеличивают за счет регистрации только света, рассеянного изучаемым образцом. При использовании метода темного поля регистрируются даже незначительные различия в преломляющей способности участков препарата . Основы метода разработаны Р. Зигмонди в 1906 году.

Принцип действия

В оптической микроскопии тёмного поля неоднородности образца рассеивают свет, и этот рассеянный свет формирует изображение исследуемого образца.

Особенностью микроскопа темного поля является способ освещения образца, который осуществляется «сбоку». При таком освещении неоднородности, имеющиеся в образце, рассеивают падающий свет и в микроскопе изображение образца наблюдают в рассеянном свете, а освещающий свет «напрямую» не попадает в объектив. Такое освещение называется эпи-подсветкой.

Для прозрачных объектов возможно и контровое освещение, но при этом необходимы дополнительные действия, чтобы убрать "прямое поле": необходимо провести фурье-преобразование полученного изображения и удалить из полученной суммы компоненту, соответствующую "опорной" волне. Это можно сделать, например, с помощью линзы и шаблона, закрывающего небольшой участок в плоскости, где линзой фокусируется "опорная" световая волна. Затем, с помощью второй линзы проводят обратное преобразование Фурье и наблюдают полученную картину визуально. При этом контраст исходного изображения существенно возрастает.

В микроскопах использование метода тёмного поля может быть предусмотрено конструкцией или реализуется установкой дополнительных узлов, таких, как конденсор темного поля ОИ-13.



Просмотров: 3213


<<< Сфокусированный ионный пучок
Фотообесцвечивание >>>